精密测量仪器
DIC 数字图像相关系统
全场应变测量系统，实现非接触式变形分析和应变场测量。
测试设备材料测试、结构监测
产品概述
DIC (Digital Image Correlation) 数字图像相关系统通过高速相机采集试样表面变形图像，利用数字图像相关算法计算全场位移和应变分布。是一种非接触式的全场光学测量方法，广泛应用于材料测试和结构健康监测。
功能特点
全场应变
二维/三维全场应变测量
高速采集
最高 100,000 fps
动态测试
冲击和爆炸瞬态变形测量
温度场
可选配红外热成像
多尺度
从微观到宏观结构测量
核心优势
1
非接触全场测量
2
不限制试样形状
3
支持动态和准静态测试
4
与万能试验机集成
典型应用场景
金属材料拉伸全场应变分析
汽车碰撞结构变形测量
技术规格
| 相机速度 | 最高 100,000 fps |
| 分辨率 | 1 - 50 μm/pixel |
| 维度 | 2D / 3D DIC |
| 应变精度 | ±50 με |
常见问题
DIC 系统能测量哪些参数？
DIC 系统能测量全场位移、应变分布、变形模式、应变集中区域等参数，支持 2D 和 3D 测量。